芯片金線3D檢測

芯片金線的斷線、腳起、并線、墮線等種種缺陷可能導致芯片的百分百強制報廢。奕目科技的芯片金線三維檢測方案可通過單次拍照精準定位缺陷的種類和三維方位，從根本上防范芯片金線缺陷帶來的強制報廢問題。